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美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀S1-554/2

簡要描述:測試電壓:50V~5000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測試電阻(阻抗)顯示Z大讀數(shù)15TΩ,顯示Z小讀數(shù)10KΩ
短路電流:5mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗

  • 產(chǎn)品型號(hào):S1-554/2
  • 品牌:MEGGER/美國
  • 更新時(shí)間:2024-09-03
  • 瀏覽次數(shù):2819

S1-554/2美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀S1-554/2的詳細(xì)資料:

簡單介紹
測試電壓:50V~5000V
測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測試電阻(阻抗)顯示zui大讀數(shù)15TΩ,顯示zui小讀數(shù)10KΩ
短路電流:5mA
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗

美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀S1-554/2的詳細(xì)介紹

美國Megger (AVO) S1-554/2  5KV絕緣電阻測試儀(高壓兆歐表)

(替代S1-5001、S1-5005

產(chǎn)品特點(diǎn):

全新的S1-554/2絕緣電阻測試儀MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的*儀器。

雙路電源輸入設(shè)計(jì):可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時(shí)候,都可以來進(jìn)行測試。

數(shù)字/模擬雙顯示測試結(jié)果

測試電壓由 50V5KV可調(diào)

測試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V(步進(jìn))微調(diào),1KV-5V的范圍里以25V(步進(jìn))微調(diào)。

絕緣電阻測量測試范圍15TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。

 

▲短路電流:5mA

▲抗干擾:4mA rms

絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測試程序,可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測試,提供全部分析結(jié)果:
絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造,由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理,因此特別堅(jiān)固耐用,而且輕巧便于攜帶,符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。

全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。

絕緣電阻測試儀顯示的信息:絕緣阻值,實(shí)時(shí)測試電壓,泄漏電流,等效電容,電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí),每次測試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測試時(shí)間,這就不需要在測試時(shí)額外計(jì)時(shí)。

絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器,還具備絕緣測試設(shè)限告警功能。

儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精確性。

儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。

儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。

產(chǎn)品功能:

內(nèi)置多種自動(dòng)測試程序:

IR 絕緣電阻測試、

DAR 吸收比測試介電吸收率

PI 極化指數(shù)測試、

SV 步進(jìn)電壓跨步電壓測試

DD 測試介質(zhì)放電

絕緣電阻zui大測試范圍15TΩ,

提供USBRS232接口下載數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測試結(jié)果:電壓,測試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD

產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):

電源

95-240V50/60 Hz 60VA 

電池使用時(shí)間

5KV 狀態(tài)下,可進(jìn)行6小時(shí)連續(xù)測試

測試電壓(DC)

50~1KV 1 kV 10V為步進(jìn)電壓

1 kV 5 kV 25V為步進(jìn)電壓

精度

± 5% 1TΩ

23°C

± 20% 10TΩ

短路電流/

5mA

充電時(shí)間

5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF

電容放電時(shí)間

放電從 5000 V 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF

電容測量

10nF 50µF(取決于測量電壓)

電容測量精度

± 5% ± 5nF

23°C

電壓輸出精度

基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ

0°C-30°C

±25V非標(biāo)測試電壓(<500V

測試電流范圍

0.01mA to 5mA

測量電流精度

±5% ±0.2 mA

23°C

抗干擾

4mA rms @ 200 V

顯示

3位數(shù)字/模擬顯示

計(jì)時(shí)器量程

99分鐘59

導(dǎo)線

3條(3)測試導(dǎo)線,帶絕緣夾頭

內(nèi)存容量

32KB

其它測試性能

IR,PI,DAR,DDSV

實(shí)時(shí)輸出

能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗

傳輸接口

RS232 USB

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

電壓,測試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD

工作溫度

-10°C-+50°C

儲(chǔ)存溫度

-25- +65

濕度

90% RH非凝固@40

保護(hù)等級(jí)

IP65

安全標(biāo)準(zhǔn)

符合EN61010- 12001 CATIII 300V

EMC

符合EN61326-11998

外形尺寸

305mm ×194 mm ×360 mm

重量

71公斤

產(chǎn)品持有證書

CE

絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋

 

PI

極化指數(shù)測試

 

極化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。

 
 

DAR

感應(yīng)吸收比誘電吸收比測試  

 

吸收比:在同一次試驗(yàn)中,60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。

 
 
 

(SV

步進(jìn)電壓測試

 

DD

介質(zhì)放電(誘電體放電)

 

絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
當(dāng)說吸收比時(shí),應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
絕緣電阻:在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對(duì)電極的泄漏電流值之比。
R=U/I,常用單位:()兆歐

5KV系列絕緣電阻測試儀選型及功能對(duì)照表    
產(chǎn)品型號(hào) MIT510/2 MIT520/2 S1-552/2 S1-554/2
絕緣電壓測試范圍        
50~5,000V(可步進(jìn)調(diào)節(jié))  
250V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))      
500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))      
1,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))      
2,500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))      
5,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié))      
絕緣測試        
絕緣電阻測試顯示范圍zui大顯示數(shù)字讀數(shù) 15 T Ω 15 T Ω 15 T Ω 15 T Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui小顯示數(shù)字讀數(shù) 10 k Ω 10 k Ω 10 k Ω 10 k Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui大顯示模擬讀數(shù) 1 T Ω 1 T Ω 1 T Ω 1 T Ω
絕緣電阻測試顯示范圍zui小顯示模擬讀數(shù) 100 k Ω 100 k Ω 100 k Ω 100 k Ω
功能        
zui大輸出電流 5mA 5mA 5mA 5mA
短路電流 3mA 3mA 5mA 5mA
抗干擾抑制 2mA 2mA 2mA 4mA
自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測試
自動(dòng)測量絕緣電阻
DAR吸收比測試(介電吸收率)
 
PI 極化指數(shù)測試
 
SV 步進(jìn)電壓跨步電壓測試
 
DD 測試介質(zhì)放電測量
 
內(nèi)置定時(shí)器器
內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器  
RS232 USB 通訊接口    
顯示        
數(shù)字和模擬雙重顯示
顯示測試電壓
顯示試品充電時(shí)間
顯示充電電流
顯示時(shí)間

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